內部尺寸：50cm（W）x40cm（H）x17cm（D）。外部尺寸：60cm（W）x50cm（H）x42cm（D）。
用途：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
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